Mikrosonda techniky

mikrosonda techniky jsou součástí fyzikální a analytické chemie . Tyto techniky jsou velmi citlivé a mají aplikace v geologii , archeologii , biologii , medicíně a materiálových vědách . Sonda Electron mikroanalýzy ( EPMA ) jenejčastěji používaným nástrojem pro geochemické analýzy a zobrazovací mikronů velikosti veličin skla a krystalů . Kvantitativní analýza EPMA jenejčastěji používanou metodou pro drobný chemické analýzy geologických materiálů . EPMA je také široce používán pro analýzu syntetických materiálů , např. optické oplatky , tenké filmy , mikroobvody , polovodiče a supravodivé keramiky . Electron Mikrosonda Analýza

Electron mikrosonda analýza ( EMPA ) , vyvinutý R. Castaing v Paříži v roce 1950 , se používá pro stanovení chemického složení malé množství pevných materiálů , aniž by je zničil . Elektronová mikrosonda je založen na principu, že v případě, že pevný materiál je bombardována zrychlené a udržet elektronového paprsku ,dopadající elektronový paprsek má dostatek energie, aby osvobození hmoty a energie ze vzorku . Mikrosvazkových Přístroj používá vysoce energetické zaostřený paprsek elektronů . Tento paprsek generuje rentgenové paprsky, které jsou charakteristické prvku ve vzorku , jak malý jako 3 mikrometrů v průměru. X - paprsky vyrobené jsou difrakci na základě analýzy krystalů a počítá s použitím plynu - flow a zapečetěné proporcionální detektory . Vědci pak určit chemické složení porovnáním intenzity rentgenového záření ze známých skladeb s těmi, které z neznámých materiálů a oprava pro účinky absorpce a fluorescence ve vzorku .
Aplikace

EPMA jeideální volbou pro analýzu jednotlivých fází ve vyvřelých a metamorfovaných minerálů , pro materiály , které jsou malé rozměry a cenné nebo unikátní ( např. vulkanického skla , meteoritu matice , archeologické artefakty ) . Z velkého zájmu při analýze geologických materiálů jsou sekundární a zpětně odražených elektronů , které jsou užitečné pro zobrazování povrchu nebo získání průměrné složení materiálu .
Nastavení a Technika

k analýze pevných materiálů pomocí EPMA , byt , je třeba být připraven leštěné řezy . V elektronové mikrosondy ,kontaktní místo na vzorku je bombardován úzkého svazku elektronů , vzrušující sekundární rentgenové záření . X -ray spektrum pro každý prvek se skládá z malého počtu specifických vlnových délek . Elektron mikrosonda se skládá z elektronovou tryskou a systémem elektromagnetických čoček pro výrobusoustředěný elektronový paprsek , skenování cívky , které umožňujípaprsek na rastrové celé ploše vzorku , fázi vzorku s XYZ pohybem , systémem detekce pevného stavu detektory v blízkosti vzorku a /nebo vlnové délky spektrometrů a , často ,světelný mikroskop pro prohlížení vzorku . Pro detekci a kvantifikaci spektrum sekundárních rentgenůvzorek vyzařuje , se používají dvě metody : detekce vlnová délka ( WDS ) , pomocí difrakční krystal izolovat charakteristické X - ray vrcholy a detekce energie ( EDS ) , za použitípevné stát detektor, který rozlišuje mezi energií přicházejících fotonů .
Výhody

hlavní výhodou EPMA jeschopnost získat přesný , kvantitativní elementární analýzy na místě velikostech jako malé jako několik mikrometrů . Elektronové optika s nastavením EPMA umožní vyšší rozlišení snímků , které mají být získány , než jsou považovány za použití viditelného světla optiky . EPMA analýza je nedestruktivní , takže X - záření generované interakcí elektronů nevedou ke ztrátě objemu vzorku . Tak je možné znovu zanalyzovat stejné materiály . Prostorový rozsah analýzy , spolu se schopností vytvářet detailní snímky , umožňuje analyzovat geologické materiály v místě a řešit složité chemické změny v rámci jednotlivých fází .